))
Avoiding Sample Collisions in your SEM
Manage episode 339741499 series 2948885
Inhoud geleverd door Bruker Nano Analytics. Alle podcastinhoud, inclusief afleveringen, afbeeldingen en podcastbeschrijvingen, wordt rechtstreeks geüpload en geleverd door Bruker Nano Analytics of hun podcastplatformpartner. Als u denkt dat iemand uw auteursrechtelijk beschermde werk zonder uw toestemming gebruikt, kunt u het hier beschreven proces https://nl.player.fm/legal volgen.
Join us as we speak to Jack Mershon, Applications Specialist for Tescan USA Inc., about SEM advancements and the TESCAN Essence™ 3D Collision Model.
YouTube:
Bruker Detectors https://youtu.be/4iHCLUG7RGw
Website:
Bruker Detectors https://www.bruker.com/en/products-and-solutions/elemental-analyzers/eds-wds-ebsd-SEM-Micro-XRF.html
Essence™ 3D Collision Model – Tescan https://www.tescan.com/product/sem-for-materials-science-tescan-vega/
App Notes application notes:
Essence™ 3D Collision Model – Tescan flyer https://mbna.bruker.com/acton/attachment/15240/f-151ee2e2-f12c-4aa7-9864-7bb93c3f36b8/1/-/-/-/-/Tescan%20-%20Essence%203D%20collision%20model.pdf
Contact Us:
+1 800-234-XRAY(9729)
18 afleveringen
Delen
